TCVN 6854-2001-ISO - An Toàn Bức Xạ - Tẩy Xạ Cho Các Bề Mặt Bị Nhiễm Xạ - Phương Pháp Thử Nghiệm

TCVN 6854-2001-ISO - An Toàn Bức Xạ - Tẩy Xạ Cho Các Bề Mặt Bị Nhiễm Xạ - Phương Pháp Thử Nghiệm Và Đánh Giá Tính Dễ Tẩy Xạ​

Đặc tính kỹ thuật được quy định trong tiêu chuẩn này áp dụng cho việc thử nghiệm các bề mặt bị nhiễm xạ. Dữ liệu về khả năng tẩy xạ thu được khi áp dụng phương pháp thử này không áp dụng cho các hệ thống kỹ thuật mà ở đó các lớp vật chất gây nhiễm xạ được hình thành sau một thời gian dài chịu nhiệt độ và áp suất cao hơn (ví dụ như các vòng sơ cấp của lò phản ứng hạt nhân). Mục đích của thử nghiệm này là đánh giá tính dễ tẩy xạ của bề mặt trong điều kiện phòng thí nghiệm. Trong ứng dụng thực tế, việc xem xét các tính chất khác, như tính bền hóa, cơ và phóng xạ; và tính ổn định lâu dài khi lựa chọn vật liệu để sử dụng có thể sẽ quan trọng. Cần lưu ý rằng các thử nghiệm tẩy xạ tiếp theo trong điều kiện mô phỏng các hoạt động có thể sẽ cần thiết.

• TCVN 6854-2001-ISO 8690 : 1988
• TCVN/TC 85 “Năng lượng hạt nhân”
• Ngày ban hành: 2001; 2008-10-08, 2226/QĐ-BKHCN
• Số trang: 17

Link Download
http://www.mediafire.com/download/uou64qv8dcqx308/
https://drive.google.com/drive/folders/1yLBzZ1rSQoNjmWeJTZ3WGQHg04L1